Nicomp 380系列納米激光粒度儀采用動(dòng)態(tài)光散射原理檢測(cè)分析樣品體系的粒度分布。其主要用于檢測(cè)納米級(jí)別的體系和其他膠體體系，其粒徑檢測(cè)范圍0.3 nm-10μm。Nicomp 380系列對(duì)數(shù)據(jù)的分析不僅僅包括傳統(tǒng)的高斯（Gaussian）算法，還使用了patent的Nicomp多峰算法，對(duì)于多組分、粒徑分布不均勻的分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有*優(yōu)勢(shì)，高分辨率的特性優(yōu)于同類產(chǎn)品。Nicomp 380系列納米激光粒度儀采用execellent的工業(yè)模塊化設(shè)計(jì)，可靈活方便地?cái)U(kuò)展ZETA電位和其他功能，如：patent的自動(dòng)稀釋系統(tǒng)、自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)、在線進(jìn)樣系統(tǒng)、多角度檢測(cè)系統(tǒng)和各種激光器/檢測(cè)器。

此為英文版，后續(xù)會(huì)提供中文翻譯版本。